Interfacial characteristics and band alignments for Zr O2 gate dielectric on Si passivated p-GaAs substrate

10.1063/1.2822422

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Dalapati, G.K., Sridhara, A., Wong, A.S.W., Chia, C.K., Lee, S.J., Chi, D.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/56370
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!