Two-wavelength microscopic speckle interferometry using colour CCD camera
Single wavelength microscopic speckle interferometry is widely used for deformation, shape and non-destructive testing (NDT) of engineering structures. However the single wavelength configuration fails to quantify the large deformation due to the overcrowding of fringes and it cannot provide shape o...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Upputuri, Paul K., Pramanik, Manojit, Kothiyal, Mahendra Prasad, Nandigana, Krishna Mohan |
---|---|
مؤلفون آخرون: | School of Chemical and Biomedical Engineering |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
اللغة: | English |
منشور في: |
2015
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/106900 http://hdl.handle.net/10220/25212 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
White light single-shot interferometry with colour CCD camera for optical inspection of microsystems
بواسطة: Upputuri, Paul Kumar, وآخرون
منشور في: (2015) -
Multi-colour microscopic interferometry for optical metrology and imaging applications
بواسطة: Upputuri, Paul Kumar, وآخرون
منشور في: (2016) -
Use of two wavelengths in microscopic TV holography for nondestructive testing
بواسطة: Upputuri, Paul Kumar, وآخرون
منشور في: (2014) -
Use of two wavelengths in microscopic TV holography for nondestructive testing
بواسطة: Upputuri, Paul Kumar, وآخرون
منشور في: (2014) -
White light interferometer with color CCD for 3D-surface profiling of microsystems
بواسطة: Upputuri, Paul Kumar, وآخرون
منشور في: (2015)