Observation of local lattice tilts in strain-relaxed Si 1-xGex using high resolution channeling contrast microscopy

بواسطة Seng, H.L., Osipowicz, T., Zhang, J., Tok, E.S.
منشور في 2014

The CIBA high resolution RBS facility

بواسطة Osipowicz, T., Seng, H.L., Chan, T.K., Ho, B.
منشور في 2011

The CIBA high resolution RBS facility

بواسطة Osipowicz, T., Seng, H.L., Chan, T.K., Ho, B.
منشور في 2014

Diffusion barrier properties of ionized metal plasma deposited tantalum nitride thin films between copper and silicon dioxide

بواسطة Latt, K.M., Lee, Y.K., Seng, H.L., Osipowicz, T.
منشور في 2014

Determination of local lattice tilt in Si1-xGex virtual substrate using high resolution channeling contrast microscopy

بواسطة Seng, H.L., Osipowicz, T., Zhang, J., Tok, E.S., Watt, F.
منشور في 2014

Ge nanocrystals in lanthanide-based Lu2O3 high-k dielectric for nonvolatile memory applications

بواسطة Seng, H. L., Ho, V., Chan, Mei Yin, Lee, Pooi See
منشور في 2012

The impact of layer thickness of IMP-deposited tantalum nitride films on integrity of Cu/TaN/SiO2/Si multilayer structure

بواسطة Latt, K.M., Lee, Y.K., Li, S., Osipowicz, T., Seng, H.L.
منشور في 2014

High resolution channeling contrast microscopy and channeling analysis of SiGe quantum well structures

بواسطة Osipowicz, T., Seng, H.L., Wielunski, L.S., Tok, E.S., Breton, G., Zhang, J.
منشور في 2014

Study on SiNx passivated Cu/Ta/SiO2/Si multilayer structure

بواسطة Latt, K.M., Park, H.S., Seng, H.L., Osipowicz, T., Lee, Y.K.
منشور في 2014

Rapid thermal oxidation of radio frequency sputtered polycrystalline Si1-xGex thin films

بواسطة Natarajan, A., Bera, L.K., Choi, W.K., Osipowicz, T., Seng, H.L.
منشور في 2014

Micro-RBS study of nickel silicide formation

بواسطة Seng, H.L., Osipowicz, T., Lee, P.S., Mangelinck, D., Sum, T.C., Watt, F.
منشور في 2014

Effect of the silicon nitride passivation layer on the Cu/Ta/SiO2/Si multi-layer structure

بواسطة Latt, K.M., Park, H.S., Seng, H.L., Osipowicz, T., Lee, Y.K., Li, S.
منشور في 2014

Micro-RBS study of nickel silicide formation

بواسطة Lee, Pooi See, Sum, Tze Chien, Seng, H. L., Osipowicz, T., Mangelinck, D., Watt, F.
منشور في 2013

Characterization of thick graded Si1-xGex/Si layers grown by low energy plasma enhanced chemical vapour deposition

بواسطة Seng, H.L., Breese, M.B.H., Watt, F., Kummer, M., Von Känel, H.
منشور في 2014

Synthesis of germanium nanocrystals in hafnium aluminum oxide matrix

بواسطة Zheng, F., Chew, H.G., Choi, W.K., Zhang, J.X., Seng, H.L.
منشور في 2014

Direct measurement of proton-beam-written polymer optical waveguide sidewall morphorlogy using an atomic force microscope

بواسطة Sum, T.C., Bettiol, A.A., Seng, H.L., Van Kan, J.A., Watt, F.
منشور في 2014

Probing the SiGe virtual substrate by high-resolution channeling contrast microscopy

بواسطة Seng, H.L., Osipowicz, T., Sum, T.C., Tok, E.S., Breton, G., Woods, N.J., Zhang, J.
منشور في 2014

Lu2O3/Al2O3 gate dielectrics for germanium metal-oxide-semiconductor devices

بواسطة Zhang, T., Darmawan, P., Setiawan, Y., Seng, H. L., Chan, T. K., Osipowicz, T., Chan, Mei Yin, Lee, Pooi See
منشور في 2012

Lu2O3/Al2O gate dielectrics for germanium metal-oxide-semiconductor devices

بواسطة Darmawan, P., Chan, M.Y., Zhang, T., Setiawan, Y., Seng, H.L., Chan, T.K., Osipowicz, T., Lee, P.S.
منشور في 2014

High-resolution channeling contrast microscopy of compositionally graded Si1-XGeX layers

بواسطة Seng, H.L., Osipowicz, T., Sum, T.C., Breese, M.B.H., Watt, F., Tok, E.S., Zhang, J.
منشور في 2014