Direct measurement of proton-beam-written polymer optical waveguide sidewall morphorlogy using an atomic force microscope

• المؤلفون الرئيسيون: Sum, T.C., Bettiol, A.A., Seng, H.L., Van Kan, J.A., Watt, F.
• مؤلفون آخرون: PHYSICS
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/96238
• المؤسسة: National University of Singapore

10.1063/1.1784035