Probing the SiGe virtual substrate by high-resolution channeling contrast microscopy

10.1063/1.1474597

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Seng, H.L., Osipowicz, T., Sum, T.C., Tok, E.S., Breton, G., Woods, N.J., Zhang, J.
مؤلفون آخرون: PHYSICS
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/97618
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!