Direct measurement of proton-beam-written polymer optical waveguide sidewall morphorlogy using an atomic force microscope

10.1063/1.1784035

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書目詳細資料
Main Authors: Sum, T.C., Bettiol, A.A., Seng, H.L., Van Kan, J.A., Watt, F.
其他作者: PHYSICS
格式: Article
出版: 2014
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/96238
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