Some issues in advanced CMOS gate stack performance and reliability

• المؤلفون الرئيسيون: Li, M.-F., Wang, X.P., Shen, C., Yang, J.J., Chen, J.D., Yu, H.Y., Zhu, C., Huang, D.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الموضوعات: CMOS; Gate Stack; Reliability
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/83036

10.1016/j.mee.2009.08.013