The role of electron traps on the post-stress interface trap generation in hot-carrier stressed p-MOSFET's
10.1109/16.753708
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| Main Authors: | , |
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| 其他作者: | |
| 格式: | Article |
| 出版: |
2014
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| 主題: | |
| 在線閱讀: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/81259 |
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