Application of Single Contact Optical Beam Induced Currents (SCOBIC) for Backside Failure Analysis

• المؤلفون الرئيسيون: Palaniappan, M., Chin, J.M., Phang, J.C.H., Chan, D.S.H., Soh, C.E., Gilfeather, G.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/72492

Conference Proceedings from the International Symposium for Testing and Failure Analysis