Rutherford backscattering analysis of GaN decomposition

Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Choi, H.W., Cheong, M.G., Rana, M.A., Chua, S.J., Osipowicz, T., Pan, J.S.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/57323
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore