In situ silane passivation of gallium arsenide and deposition of high-permittivity gate dielectric for MOS applications

10.1149/1.2768288

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Zhu, M., Chin, H.-C., Tung, C.-H., Yeo, Y.-C.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/56300
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!