Analysis of the effects of fringing electric field on finFET device performance and structural optimization using 3-D simulation

10.1109/TED.2008.919308

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Zhao, H., Yeo, Y.-C., Rustagi, S.C., Samudra, G.S.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/55096
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!