Fluence dependence of IBIC collection efficiency of CMOS transistors

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Osipowicz, T., Sanchez, J.L., Orlic, I., Watt, F., Kolachina, S., Chan, D.S.H., Phang, J.C.H.
مؤلفون آخرون:	ELECTRICAL ENGINEERING
التنسيق:	مقال
منشور في:	2014
الموضوعات:	Charge microscopy Device imaging Microbeam
الوصول للمادة أونلاين:	http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/50562
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة:	National University of Singapore

مواد مشابهة