Effect of Cu contamination on electrical characteristics for PMOS transistors

• المؤلفون الرئيسيون: Tee, K.C., Prasad, K., Lee, C.S., Gong, H., Chan, L., See, A.K.
• مؤلفون آخرون: MATERIALS SCIENCE
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/107266

International Symposium on IC Technology, Systems and Applications