White light interferometry for surface profiling with a colour CCD

• المؤلفون الرئيسيون: Kumar, U.P., Haifeng, W., Mohan, N.K., Kothiyal, M.P.
• مؤلفون آخرون: PHYSICS
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الموضوعات: Fringe analysis; Phase shifting; Single-chip colour CCD camera; Surface profiling; White light interferometry
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/98582

10.1016/j.optlaseng.2012.02.002