Silicon-carbon source/drain: Selective epitaxy, process integration, and transistor strain engineering

10.1149/1.2355908

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Yeo, Y.-C.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: Conference or Workshop Item
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/84181
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore