High performance Ge CMOS with novel InAlP-passivated channels for future sub-10 nm technology node applications
10.1109/IEDM.2013.6724700
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Liu, B., Gong, X., Cheng, R., Guo, P., Zhou, Q., Owen, M.H.S., Guo, C., Wang, L., Wang, W., Yang, Y., Yeo, Y.-C., Wan, C.-T., Chen, S.-H., Cheng, C.-C., Lin, Y.-R., Wu, C.-H., Ko, C.-H., Wann, C.H. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/83783 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Band alignment study of lattice-matched InAlP and Ge using x-ray photoelectron spectroscopy
بواسطة: Owen, M.H.S., وآخرون
منشور في: (2014) -
Towards high performance Ge 1-xSn x and In 0.7Ga 0.3As CMOS: A novel common gate stack featuring sub-400°C Si 2H 6 passivation, single TaN metal gate, and sub-1.3 nm EOT
بواسطة: Gong, X., وآخرون
منشور في: (2014) -
Influence of hydrogen surface passivation on Sn segregation, aggregation, and distribution in GeSn/Ge(001) materials
بواسطة: Johll, H., وآخرون
منشور في: (2016) -
Near ballistic sub-7 nm Junctionless FET featuring 1 nm extremely-thin channel and raised S/D structure
بواسطة: Goh, K.H., وآخرون
منشور في: (2014) -
(NH4)2S passivation for high mobility germanium-Tin (GeSn) p-MOSFETs
بواسطة: Wang, L., وآخرون
منشور في: (2014)