Molecular beam epitaxial growth and characterizations of Co-Mn-Ge Heusler thin films

• المؤلفون الرئيسيون: Sim, C.H., Ko, V., Teo, K.L., Guo, Z.B., Liew, T., Chong, T.C.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الموضوعات: A1. Reflection high-energy electron diffraction; A3. Molecular beam epitaxy; B1. Heusler alloy; B3. Spintronics
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82719

10.1016/j.jcrysgro.2007.08.010