Hafnium aluminum oxide as charge storage and blocking-oxide layers in SONOS-type nonvolatile memory for high-speed operation

10.1109/TED.2006.870273

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Tan, Y.N., Chim, W.K., Choi, W.K., Joo, M.S., Cho, B.J.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82443
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore