Investigation of interface traps in LDD pMOST's by the DCIV method

• المؤلفون الرئيسيون: Jie, B.B., Li, M.F., Lou, C.L., Chim, W.K., Chan, D.S.H., Lo, K.F.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/80634
• المؤسسة: National University of Singapore

10.1109/55.644078