Hot-carrier induced degradation in the subthreshold characteristics of LDD PMOSFETs

• المؤلفون الرئيسيون: Lou, C.L., Chim, W.K., Chan, D.S.H., Pan, Y.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/72677

Proceedings of the International Symposium on the Physical 7 Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA