Fault-detection and diagnosis scheme by dynamic computation of finite-state automaton tables

• المؤلفون الرئيسيون: Ramkumar, K.B., Druckenmueller, M., Xi, Y.X., Philips, P., Presig, H.A., Ho, W.K., Lim, K.W.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/72636

IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)