Fault-detection and diagnosis scheme by dynamic computation of finite-state automaton tables

IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)

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書目詳細資料
Main Authors: Ramkumar, K.B., Druckenmueller, M., Xi, Y.X., Philips, P., Presig, H.A., Ho, W.K., Lim, K.W.
其他作者: ELECTRICAL ENGINEERING
格式: Conference or Workshop Item
出版: 2014
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/72636
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機構: National University of Singapore

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