Metal gate/High-K dielectric stack on Si cap/ultra-thin pure Ge epi/Si substrate

10.1109/EDSSC.2005.1635217

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書目詳細資料
Main Authors: Yeo, C.C., Lee, M.H., Liu, C.W., Choi, K.J., Lee, T.W., Cho, B.J.
其他作者: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
格式: Conference or Workshop Item
出版: 2014
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/70917
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