Whole-cell imaging at nanometer resolutions using fast and slow focused helium ions

• المؤلفون الرئيسيون: Chen, X., Udalagama, C.N.B., Chen, C.-B., Bettiol, A.A., Pickard, D.S., Venkatesan, T., Watt, F.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/57812
• المؤسسة: National University of Singapore

10.1016/j.bpj.2011.08.028