A methodology for accurate modeling of a pad structure from S-parameter measurements

10.1002/mop.20740

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Jayabalan, J., Ooi, B.L., Wu, B., Xu, D.S., Iyer, M.K., Leong, M.S.
مؤلفون آخرون:	ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق:	مقال
منشور في:	2014
الموضوعات:	Equivalent-circuit model Pad models Parameter extraction S-parameter measurements Wafer level package
الوصول للمادة أونلاين:	http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/54368
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة:	National University of Singapore

مواد مشابهة