Atomic Origin of Interface-Dependent Oxygen Migration by Electrochemical Gating at the LaAlO3-SrTiO3 Heterointerface

10.1002/advs.202000729

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Dongsheng Song, Deqing Xue, Shengwei Zeng, Changjian Li, Thirumalai Venkatesan, Ariando Ariando, Stephen J. Pennycook
مؤلفون آخرون:	ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING
التنسيق:	مقال
منشور في:	WILEY 2021
الموضوعات:	electrochemical gating ionic liquid gating LaAlO3/SrTiO3 oxygen migration
الوصول للمادة أونلاين:	https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/188022
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة