Run probability of high-order seed patterns and its applications to finding good transition seeds

• المؤلفون الرئيسيون: Yang, J.L., Zhang, L.X.
• مؤلفون آخرون: MATHEMATICS
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2016
• الموضوعات: High-order seed pattern; Run statistics; Sensitivity analysis; Transition seed
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/130099
• المؤسسة: National University of Singapore

Series on Advances in Bioinformatics and Computational Biology