Energy-dependent systematic errors in dual-energy X-ray CT

10.1109/23.568808

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書目詳細資料
Main Authors: Goh, K.L., Liew, S.C., Hasegawa, B.H.
其他作者: CTR FOR REM IMAGING,SENSING & PROCESSING
格式: Article
出版: 2014
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/112832
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機構: National University of Singapore