Energy-dependent systematic errors in dual-energy X-ray CT

10.1109/23.568808

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Goh, K.L., Liew, S.C., Hasegawa, B.H.
مؤلفون آخرون: CTR FOR REM IMAGING,SENSING & PROCESSING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/112832
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore