APA استشهاد

Shi, B., Tan, P., Matsushita, Y., Ikeuchi, K., & ENGINEERING, E. &. C. (2014). A biquadratic reflectance model for radiometric image analysis.

استشهاد بنمط شيكاغو

Shi, B., P. Tan, Y. Matsushita, K. Ikeuchi, و ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING. A Biquadratic Reflectance Model for Radiometric Image Analysis. 2014.

MLA استشهاد

Shi, B., et al. A Biquadratic Reflectance Model for Radiometric Image Analysis. 2014.

تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.