Structured fault-detection and diagnosis using finite-state automaton

• المؤلفون الرئيسيون: Ramkumar, K.B., Philips, Patrick, Presig, Heinz A., Ho, W.K., Lim, K.W.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: Review
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/68428

IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)