Robustness monitoring for PID control systems

IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Ho, W.K., Wong, H.S., Han, H.P., Ni, L.Y.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
التنسيق: Review
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/68405
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore