Cantilever deflection profile in scanning probe microscopy

10.1088/0143-0807/27/4/027

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Ng, T.W., Thirunavukkarasu, S.
مؤلفون آخرون: BACHELOR OF TECHNOLOGY PROGRAMME
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/67748
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore