Kam, P. Y., Seek, K. Y., Tjhung, T. T., Sinha, P., & MICROELECTRONICS, I. O. (2014). Error probability of 2DPSK with phase noise.
استشهاد بنمط شيكاغوKam, Pooi Yuen, Kwai Yin Seek, Tjeng Thiang Tjhung, Pranesh Sinha, و INSTITUTE OF MICROELECTRONICS. Error Probability of 2DPSK With Phase Noise. 2014.
MLA استشهادKam, Pooi Yuen, et al. Error Probability of 2DPSK With Phase Noise. 2014.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.